二极管在跌落测试后发生短路，故障原因是？

品慧电子讯电源中一颗特定的二极管在经过装置的机械跌落测试(drop test)后发生了短路故障，这种情况一而再地反复发生...机械冲击似乎是引发故障的原因...

多年前，我曾经在一项射频(RF)应用中使用了2N918晶体管。该晶体管采用TO-72大小的封装，其中有4根导线，分别用于连接集电极、发射极、基极和晶体管的金属罐。后来，由于在设计和绘图时遇到了布局问题，因而想切断连接晶体管金属罐的导线。于是，我联络了供货商询问细节。

“不！千万别那样做喔！”供货商回复说，切断该导线连接可能导致机械脉冲进入装置中，因而可能损坏半导体芯片。

切断导线引发的机械脉冲可能损坏芯片。请先记住这个想法，稍后将会进一步讨论。

最近，刚好有朋友来找我讨论电源问题，他提到在电源中有一颗特定的二极管在经过该装置的机械跌落测试(drop test)后发生了短路故障。由于这种情况一而再地反复发生。因此，多年前那个2N918晶体管问题的想法又重新浮现在脑海中。

由于机械冲击似乎是引发故障的原因，我建议朋友先查查看二极管接线端子的连接是刚性还是软性的。请参见图 1。

图 1：机械跌落测试的替代连接方法。

如果那根导线的坚硬度足以支撑联合国(UN)大楼其中一翼，那么在跌落测试期间，它可能会传递机械脉冲至该二极管封装中。接着，这些脉冲可能会被传输至无法承受这种损坏的半导体芯片本身。

我建议让二极管保持灵活的连接，并进一步建议使用软性编织物来取代刚性导线，即可实现这一目的。

有时这真的是最简单的事。但从那时起，我就再也没听说过有关二极管故障的消息了。

(参考原文：The diode and the drop test，作者：John Dunn，编译：Susan Hong)

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