是否可以通过试验来剔除早期失效的LED？

与其他半导体器件一样，LED可借鉴半导体二极管、三极管和集成电路的筛选方法来剔除产品中容易早期失效的器件，从而减少进入客户应用领域中的产品的失效率。
已经针对各种失效模型制定出筛选试验办法，常用的有如下一些方法：
（1） 电热加速疲劳试验
在每一生产批次的LED产品中，按规定的抽样比率随机抽取一定数量的样本进行缺陷的产品在较大强度的电热应力下暴露出来，从而达到剔除的目的。例如对常规小功率LED，使IF=30mA，温度85℃下老化240小时以上再进行测试统计失效率，看是否超过规定的比率，如超过，则此批进行筛选，剔除早期失效产品。
（2） 环境试验
环境试验是模拟LED在应用中遇到的各类自然现象的侵袭，考验LED的
承受能力。例如若将LED应用在火箭装置中，当火箭发射升空时，LED将受到重力加速度，冲击振动，温度巨变等各种侵袭，构成LED的材料会发生各种应力冲击。如果加工过程没有充分预防，则很可能导致LED失效。
一般来说，环境试验并不是对所生产的LED全部试验，因为有些试验属破坏性试验，被试样品会产生外观性能的变化。不能再作产品出厂。因此环境试验采用定期抽样方法。这类试验一般有：
（A） 高低温冲击试验——从高温突变到低温多次冲击。
（B） 温度循环试验——高温 低温 高温 低温循环。
（C） 潮温试验——在规定温度、湿度下将LED进行存放规定时间。
（D） 盐雾试验——在规定盐度气氛下存放规定时间。
（E） 沙尘试验——模拟在沙漠环境下存放或工作。
（F） 辐照试验——各种射线辐照观察LED光电性能。
（G） 振动、冲击试验——在规定振幅和频率下对LED进行模拟运输过程的试验。
（H） 跌落试验——在一定高度下跌落数次。
（I） 引线拉力和弯折试验——对LED的引出线进行拉伸强度试验和折弯试验。
（J） 离心加速度试验——模拟LED旋转状态承受能力。
等等一些模拟LED可能遇到的各种自然现象和使用环境，检验它的承受能力和各种构件的应力匹配状况。
（3） 寿命实验
为了观察LED在长期连续使用的情况下，其光性能的变化规律，LED制
造商必须对每一类品种抽样进行长期通电老化，以考察这一特定类型的产品的“寿命”时间。通过对不同工艺，材料的每类产品数千，甚至数万小时的跟踪观察。积累数据，从而作出它们的预期工作的“平均寿命”的统计数据。
寿命实验一般在规定的环境条件下，对LED加置额定的功率，长期进行通电老化，并定期测试它的有关光电参数记录对比得出相关数值。