可定性测试电容器漏电的实用电路设计
品慧电子讯电解电容器时间用长后就会出现漏电现象，但是我们很多时候不知道还能不能继续使用，所以需要测量电容的漏电现象。这里分享一个技术行业通用的可定性测试电容器漏电的实用电路设计，帮大家来判断电容还能不能使用。电解电容器时间用长后就会出现漏电现象，附图所示的电路能让你测试电容器的漏电，并且决定它们是否值得使用，你可以通过CREF/RREF的比值抑制泄漏。
附图中的比值适用于从1纳法的陶瓷电容器到1000微法的电解电容器等所有电容器的通用测试。电路中CREF的数值与待测电容器CX的数值相近，你也可以通过一个旋转开关选择RREF，使其大于或小于22MΩ。工作原理当按钮开关合上时，电容器CREF和CX通过它们各自的PNP晶体管进行充电。当该开关断开时，电容器CREF和CX开始放电。假定CREF处在良好状态，它具有一个附加的放电外接电阻RREF，待测电容器CX通过其内部电阻放电。如果CX的放电比CREF通过RREF的放电快，此时其电压将下降较快，这样，运算放大器的同向端输入电压将比其反向端输入电压低，迫使运算放大器的输出变低，从而点亮红色发光二极管。该发光二极管指明待测电容器CX漏电，该测试电路表明甚至一个1纳法的陶瓷电容器都适应来比作参考，测试前请检查待测电容器CX的标称电压应比其待充电电压要高。运算放大器LF357具有10V的最小电源电压，本测试电路只选取6V电压是为了容许待测电容器CX一个低的上限电压。
