新型元器件应用和系统测试技术应对电磁兼容设计挑战
新闻事件：
- 4月9日，深圳会展中心牡丹厅即将举行第四届电路保护与电磁兼容技术研讨会
- 村田、太阳诱电、3-test将与大家分享EMI和EMC的设计和测试难点和最新解决方案
- 陶显芳老师将分享降低EMI能量、提高EMC指标的经验
在即将于4月9日在深圳会展中心牡丹厅举行的第四届电路保护与电磁兼容技术研讨会上，村田、太阳诱电、3-test（苏州泰思特）的专家将与听众朋友们分享EMI和EMC的设计和测试难点和最新解决方案，此外，特邀嘉宾陶显芳老师将分享降低EMI能量、提高EMC指标的经验。
村田制作所将在大会上与听众朋友分享DiiVA接口设计相关的解决方案。DiiVA作为一种新的“中国标准”高清接口，在首款发送和接收芯片发布不久，即得到了国际大厂的支持，显示出非常有利的前景。村田高级工程师范为俊表示：“为了保证DiiVA各方面的性能，比如数据传输、ESD、EMI等等，对周边的被动件比如电容、磁珠、共模扼圈、ESD器件等有自己特殊的要求。 ”
太阳诱电株式会社有丰富的电子兼容和保护器件元件产品线，设有方便查找的在线选择工具。太阳诱电株式会社的技术专家将与听众朋友分享辐射噪音的发生规律和最新辐射电场规格动向，包括电感产品市场动向、电感技术、EMC技术以及如何使用铁氧体磁珠和如何选择共模扼流线圈等等。
基于单片机的电子设备的传导电磁干扰噪声问题不容忽视，了解传导电磁干扰噪声产生机理有助于对该系统的传导电磁干扰问题进行诊断与抑制。苏州泰思特专家将与大家分享单片机系统传导电磁干扰噪声问题解决方案。通过对于单片机系统传导电磁干扰噪声的模态提取，得到该噪声的共模分量和差模分量；同时测定该噪声源的内阻抗并与相应噪声模态相结合，从而设计出相应的滤波器用以抑制该系统的传导电磁干扰噪声，以解决单片机系统的传导电磁干扰问题。
除了各大厂商的积极参与，此次会议还邀请了了陶显芳老师介绍电磁兼容设计的经验之谈。陶老师是电磁兼容领域的专家，曾任康佳集团彩电技术中心总体技术设计所所长，从事技术工作40年，相信对听众朋友们的EMC设计会有很大的帮助。
EMC设计一直是困扰电路设计师进行电子产品线路设计的首要问题。除了对EMC的讨论，本次研讨会还邀请了Littelfuse、Bourns、AEM、顺络电子、Sino-IC、槟城电子等国际和本土电路保护器件的领军厂商探讨电路保护的问题。电路保护和电磁兼容技术研讨会已经举行了三届，每一届都吸引了大量的设计工程师和研发项目经理的参与。因座位有限，请工程师朋友抢先网上注册预订坐席： http://www.cntronics.com/public/seminar/emc 关键字：元器件 电磁兼容 研讨会 村田 太阳诱电 3-test EMI EMC 本文链接：http://www.cntronics.com/public/art/artinfo/id/80005593
