泰克推出第三代DDRA选件和BGA元件内插器

产品特点：

• DDRA选件增加了关键规范验证测量功能
• 最新BGA元件内插器可以简便安装在客户电路板上

• DDR设计和测试

测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布，为DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器推出第三代经过验证的DDR分析软件产品(DDRA选件)。泰克DDR测试解决方案支持DDR、DDR2、DDR3、LP-DDR和GDDR3的全部速度，同时覆盖了物理层和数字域。泰克公司还为DDR3存储器设计推出一套新的拥有Nexus Technology技术的球栅阵列(BGA)元件内插器（Interposers），改善了连接能力。泰克系列逻辑分析仪、示波器和探测系统共同构成了DDR设计和测试工程师们所需的关键测试解决方案的核心。

DDR3标准支持800MT/s(每秒百万次传输)到2133 MT/s的数据速率，相应的时钟频率分别为400 MHz到1066 MHz，是DDR2技术的两倍。DDR3特别适合于高性能应用，如文件服务器、影视点播、编码和解码、游戏和3-D可视化。

泰克DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器的DDR 分析软件 (DDRA选件)增加了业内同类测试解决方案上没有的关键规范验证测量功能。JEDEC DDR2和DDR3规范(JESD79-3C, JESD79-2E)规定，测量的通过/失败极限，如建立时间和保持时间应根据相关信号测得的转换速率来作降低。现在， DDRA选件不仅提供了所需的转换速率测量功能，还能够计算额定值减少量，自动调节通过/失败极限。DDRA及多种完善的探测解决方案相结合，包括日前推出的Nexus Technology公司的BGA内插器，为从物理层角度验证和调试DDR设计提供了最完整的解决方案。

用于示波器和逻辑分析仪的最新BGA元件内插器采用创新的插座式设计，可以简便安装在客户电路板上，并能够轻松改变存储器元件，进行检定/余量测试，而不需要把电路板送到返修室，从而避免了中断时间，有效缩短开发周期。内插器的设计通过在距BGA球非常近的每条信号线上均采用嵌入式100欧姆电阻器，可提供无可比拟的信号保真度。在与泰克P7500系列 Tri-Mode探头及Nexus产品或TLA7000系列逻辑分析仪专用的新型焊接探头前端一起使用时，内插器便成为探测系统的一部分，可以以高达1600MT/s及更高的数据速率准确地采集信号。

“随着DDR3存储器设计的尺寸不断缩小、数据速率不断提高，信号接入和探测已经成为每个存储器设计人员的一项关键任务。” Nexus Technology公司总裁Robert Shelsky说，“最新推出的存储器元件内插器在安装和使用的简便性方面为设计工程师提供了最佳的整体体验。新内插器有助于加快DDR3存储器元件的模拟检定、数字调试和协议检验速度，帮助工程师更快地将自己的设计推向市场。”

存储器系统性能的提升，导致了设计复杂程度的不断提高，因而需要使用杰出的验证和测试工具。泰克由示波器、逻辑分析仪、探头和配套软件组成的业内领先的DDR测试套件，为工程师提供了一套全新的产品系列，涵盖了业内最优秀的功能，帮助其开发运用最新DDR技术的下一代产品。

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