你好!欢迎来到深圳市品慧电子有限公司!
语言
当前位置:首页 >> 技术中心 >> 生产测试 >> 吉时利超快C-V测量系统4225-PMU单机实现三大基本特征分析功能

吉时利超快C-V测量系统4225-PMU单机实现三大基本特征分析功能


产品特性:
  • 最新的4225-PMU超快I-V测试模块丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列
  • 实现了业界最宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程
  • 大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力
  • 利用4225-PMU可以像进行直流测量那样,轻松实现超快的I-V源和测量操作
  • 单机实现三大基本特征分析功能的吉时利超快C-V测量系统
应用范围:
  • 非常适合于既需要超快电压输出又需要同步测量的应用——从纳米CMOS到闪存
先进电子测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块,进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流/电压测量功能,实现了业界最宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程,大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。同样重要的是,利用4225-PMU可以像进行直流测量那样,轻松实现超快的I-V源和测量操作。其很宽的可编程源与测量量程、脉宽和上升时间使得它非常适合于既需要超快电压输出又需要同步测量的应用——从纳米CMOS到闪存。要想了解更多详情,请点击此处http://keithley.acrobat.com/p77402742/。

与之前需要多达三种不同测试台才能对器件、材料或工艺进行充分特征分析的方案不同的是,4225-PMU凭借其很宽的动态量程,只需一套仪器即可完成对材料、器件和工艺的全方位特征分析。目前,实验室配置一套灵活的系统就可以处理所有三类测量操作:精密直流I-V测试(4200-SMU)、交流阻抗(4210-CVU C-V仪器)和超快I-V或瞬态I-V测试(4225-PMU)。

单模块双通道集成式源和测量功能

每个4225-PMU模块提供了两个通道的集成式源和测量功能,但是仅仅占用九槽机架中的一个插槽。每个机架最多可安装四个这样的模块,实现最高8个超快的源/测量通道。每个通道兼具高速电压输出(脉宽范围从60纳秒到直流)和同步电流与电压测量两大功能。这种模块实现了高速电压脉冲和同步电流与电压测量功能,采集速率高达200兆次采样/秒(MS/s),具有14位模-数转换器(A/D),每个通道采用了两个A/D(每卡四个A/D)。用户可以选择两种电压源量程(1兆欧输入±10伏 ± 40伏),以及四种电流量程(800毫安、200毫安、10毫安、100微安)。

可选的硬件扩展源-测量灵活性

每个4225-PMU模块可以配置多达两个可选的4225-RPM远程放大器/开关,从而提供了四种额外的低电流量程。它们还有助于减少线电容效应,并且支持在4225-PMU、4210-CVU和机架中安装的其他SMU之间自动切换。另外还有可选的4220-PGU脉冲发生器,它是仅仅支持电压源功能的4225-PMU替代品。

支持丰富的材料、器件和工艺特征分析应用

4225-PMU和4225-RPM结合在一起能够实现其它单台仪器无法实现的多种应用所必需的工具功能。其中一些主要应用如:
通用超快I-V测量。脉冲式I-V测试具有很广泛的应用,它通过使用窄脉冲和/或低占空比脉冲而不是直流信号,能够防止器件自热效应。

CMOS器件特征分析。4225-PMU/4225-RPM的高速电压源和电流测量灵敏度使得它们非常适合于CMOS器件的特征分析,包括高k器件和先进CMOS工艺,如绝缘体上硅(SOI)。

非易失性存储器测试。系统安装的KTEI软件提供了用于闪存和相变存储器(PCM)器件测试的工具包。该系统非常适合于单个存储单元或小规模存储阵列的测试,例如研发或工艺验证之类的应用。

化合物半导体器件与材料的特征分析。4225-PMU能够对III-V族材料进行特征分析,例如氮化镓(GaN)、砷化镓(GaAs)和其它一些化合物半导体。它允许用户设置一个脉冲偏移电压,然后从非零值进行测量,从而研究器件的放大增益或线性度。

NBTI/PBTI可靠性测试。可选的4200-BTI-A超快BTI工具包集成了实现所有已知BTI测试方法所需的全部硬件和软件,并且具有最快、最灵敏的测量性能。此外,自动特征分析套件(ACS)软件还支持全自动晶圆级和晶匣级测试,内置NBTI/PBTI测试库,具有简洁易用的GUI。

四种可编程扫描选项

4225-PMU支持四种扫描类型:线性扫描、脉冲、任意波形和分段ARB®(已申请专利)。分段ARB模式简化了波形的创建、存储和生成过程,最高支持由2048个用户自定义线段组成的波形,具有出色的波形生成灵活性。

高性能缆接

可选的多路测量高性能线缆套件能够实现4200-SCS和探测控制器的连接,简化在直流I-V、C-V和超快I-V测试配置之间的相互切换过程,无需重新布线,增强了信号保真度。

了解更多信息

关于吉时利4200-SCS半导体特征分析系统的更多信息,敬请访问公司网站:https://www.keithley.com/products/semiconductor/parametricanalyzer/4200scs/?mn=4200-SCS,或者联系吉时利公司:全国免费电话800-810-1334手机用户请拨打440-650-1334。
吉时利仪器公司(中国)市场部吉时利仪器公司(中国)市场部吉时利仪器公司(中国)市场部 
吉时利仪器公司(中国)市场部吉时利仪器公司(中国)市场部吉时利仪器公司(中国)市场部(T) 8008101334, 8610 82255010, 82255011 publisher@keithley.compublisher@keithley.compublisher@keithley.compublisher@keithley.compublisher@keithley.com
(E) Publisher@Keithley.com china@keithley.com china@keithley.com

关于吉时利公司

美国吉时利仪器公司拥有60多年的测试和测量的丰富经验,已经成为涵盖从DC(直流)到RF(射频)先进的电子测量仪器和系统的行业领导者。专为电子制造业对高性能的生产测试、工艺监控、产品的研究与开发方面的特殊需要与挑战,提供卓越的解决方案。凭借在电子测试研发领域的优势,吉时利仪器公司已经成为一个在半导体、无线通讯、光电器件和其它精密电子测量领域世界级的测试技术领导者。吉时利仪器公司对客户的核心价值在于:将先进的精密测量技术与深入了解客户应用有机结合,从而帮助客户提高产品质量、产能与产量。

本文中涉及的产品和公司名称均为注册商标或各自公司的商标名称。 关键字:吉时利 C-V测量系统 4225-PMU 单机 特征分析  本文链接:http://www.cntronics.com/public/art/artinfo/id/80005347

相关文章

    用户评论

    发评论送积分,参与就有奖励!

    发表评论

    评论内容:发表评论不能请不要超过250字;发表评论请自觉遵守互联网相关政策法规。

    深圳市品慧电子有限公司