安捷伦为逻辑分析仪Agilent,U4154A推出2.8,Gb/s,入门级选件
产品特性：
- 2.8Gb/s（68通道）和1.4Gb/s（136通道）两种状态捕获速率
- 20 ps 扫描时间分辨率
- 20 mV 分辨率
应用范围：
- 逻辑分析仪
安捷伦科技公司日前宣布为其业界最快的逻辑分析仪 Agilent U4154A 提供一款低价位、入门级 1.4 Gb/s 状态模式选件。
该款新选件具有 2.8 Gb/s（68 通道）和 1.4 Gb/s（136 通道）两种状态捕获速率以及 20 ps 扫描时间分辨率和 20 mV 分辨率，可稳定地捕获眼图张开最小为 160 ps * 160 mV 的数据。
为满足工程师对状态模式数据速率的更高要求，该选件的捕获速率可升级至 4 Gb/s（68 通道）和 2.5 Gb/s（136 通道）。凭借这些功能，工程师能够测量新兴技术中越来越快的数字信号。
Agilent U4154A 基于AXIe机箱的逻辑分析仪模块及其相关探头和功能强大的分析软件可提供各种关键能力，便于工程师使用 DDR（双倍数据速率）和低功耗 DDR 存储系统、高速特定应用集成芯片、模数转换器和高达 4 Gb/s 的现场可编程门阵列(FPGA)。
业界最快的触发序列器速度——1.4 GHz（选件 01G）和 2.5 GHz（选件 02G）——可使工程师对序列事件进行可靠地触发，且不会降低触发的灵活性。
安捷伦在电子设备工程联合委员会(Joint Electronic Devices Engineering Council)及其它 JEDEC DDR 委员会的代表 Perry Keller 表示：“U4154A 使工程师更有把握进行状态模式捕获和深入分析总线电平信号完整性，因而成为 DDR 存储测量和调试工作的理想工具。”
在高速测量中，信号完整性验证成为获得可靠性能的关键。在U4154A上的Agilent独有的 眼图扫描专利技术可代替上述方法，使工程师在短时间内完成 DDR 系统全部信号完整性的扫描。U4154A 能够迅速识别故障信号以节省时间，使工程师专注于使用示波器对最受关注的信号进行探测。
作为同步状态分析测试的补充的定时缩放(Timing Zoom)具有 80 ps 的定时分辨率以及 256 K 的采样存储深度，允许进行超过 20 us 时间间隔的同步状态和高分辨率定时测量，从而使设计师对问题进行更深入地分析。此外，U4154A 还分别针对全通道和半通道提供 2.5 GHz 和 5 GHz 定时和跳变定时模式。
U4154A 逻辑分析仪的软件和探头可帮助工程师们完成他们的测量任务：
- Agilent B4622A DDR2/3 协议一致性和分析软件能够在极深的 DDR 总线波形上完成自动测量，从而帮助工程师快速确定协议问题区域。
- 安捷伦及其合作伙伴为 U4154A 提供了一系列可兼容的探测解决方案，包括 DDR BGA 探头和内插式探头(Interposer)以及适用于中间总线(Mid-bus)探测的安捷伦软接触探头。
U4154A 逻辑分析仪模块可兼容 Agilent M9502A 双插槽 AXIe 机箱。多个模块可使用同一时基和触发序列器。多个模块系统（包括 Agilent 16900 系列主机）可以联合对某一系统中的多个总线进行时间相关测量。
U4154A 将于 9 月 27 日至 28 日在美国马萨诸塞州波士顿市举办的 DesignCon 东部会议上展示。
