DDR测试系列之二——使用力科WaveScan技术分离DDR读写周期
中心议题：
- 把读/写的访问周期分离开来测量DDR2存储设备
- 力科的WaveScan波形搜索与扫描特性可以找出Data信号
- WaveScan把测量过滤中所有符合测量标准的波形累积起来形成扫描叠加的轨迹图
- 这幅余辉图包含了全部捕获的历史波形轨迹
测量DDR2存储设备需要把读/写的访问周期分离开来。在DDR2中通过Strobe和Data总线之间的关系可以区分出来读和写的操作。如图1所示，在读操作时Data和Strobe的跳变是同步的，而在写操作时Strobe的跳变则领先于Data。我们利用这种时序上的差异就可以分离出读操作和写操作。在图1中，较低幅值的“读”操作时，Data跳变与Strobe跳变同时发生，较高幅值的“写”操作时，Strobe信号会领先于Data信号约750ps跳变。
图 1: DDR2 波形显示了 Strobe (红色) 和 Data (黄色)信号之间的时序关系力科的WaveScan波形搜索与扫描特性可以通过选择Strobe和扫描叠加（ScanOverlay）图中满足条件的波形之间的时序关系找出Data信号。图2是这种功能的一个例子。WaveScan的对话框设置为搜索建立时间（Hold Time）在500ps到1ns(750 ±250 ps)之间的波形。对话框右边的标签用来鉴别Strobe和Data信号。注意“Hold Clock”和“Hold Data”两个对话框标签，测量是对这两个信号边沿设定的。
图2: 基于Data和Strobe信号跳变之间的保持时间用WaveScan隔离出写操作图3显示的是一个“risetime ”参数应用在扫描叠加轨迹中的例子。扫描叠加轨迹图仅仅包括由WaveScan隔离出来的写操作周期。
图 3: P3 测量的是仅包含写操作的扫描叠加轨迹中的每一个脉冲的上升时间（risetime）图4显示的是另一项测量技术。在这里，被选定的一组写周期用扫描缩放（ScanZoom）分离出来。参数门限进一步隔离出仅有12个写周期并仅在信号正边沿测量出两个信号的时间差（P4）。WaveScan为您提供了一种可以测定DDR2设备的工具。
图4: 使用ScanZoom和参数门限测量选定的写操作WaveScan会在左边显示的表格中列出每次捕获中符合测量条件的所有波形特征。触摸列表时会自动的对被选择的特征放大显示。这个例子中显示的是一组“写”操作状态的缩放。每个符合测量标准的操作就像显示出来的那样用一个红色方框描绘出轮廓。
WaveScan把测量过滤中所有符合测量标准的波形累积起来形成扫描叠加的轨迹图（图2中间的轨迹）。这幅余辉图包含了全部捕获的历史波形轨迹。我们现在就可以对被选择出来的整个波形组在扫描叠加轨迹图上应用测量参数进行测量。你也可以在被选择波形的缩放轨迹上应用测量参数进行测量。 关键字：DDR测试 力科 WaveScan 分离读写周期 本文链接：http://www.cntronics.com/public/art/artinfo/id/80004599
