了解定向耦合器中的射频功率测量误差
【导读】定向耦合器在许多微波和毫米波系统中起着重要作用。例如,矢量网络分析仪(VNA)使用定向耦合器来分离和采样往返于DUT端口的前后波。在本文中,我们将讨论耦合器的方向性系数如何在测量反射功率时引入误差。
定向耦合器是测试射频系统的宝贵工具。然而,这些设备的有限方向性可能会导致测量不确定性。本文将详细介绍。
定向耦合器在许多微波和毫米波系统中起着重要作用。例如,矢量网络分析仪(VNA)使用定向耦合器来分离和采样往返于DUT端口的前后波。在本文中,我们将讨论耦合器的方向性系数如何在测量反射功率时引入误差。
测量反射功率
图1展示了一个通用的定向耦合器,用于测量未知终端的反射功率。由于我们测量的是反射功率,因此耦合器的负载端(端口1)被标记为输入端口,即使源端连接到端口2。
使用定向耦合器测量反射功率。显示了所有四个端口,但隔离端口已端接。
图1.使用四端口定向耦合器测量反射功率。图片由Steve Arar提供
电源提供的功率(Pi)通过耦合器传输到负载——从端口2到端口1。在负载处,一部分功率被反射回耦合器。反射功率(Pr)的量是负载阻抗和互连特性阻抗之差的函数。Pr的一小部分通过耦合器传输,并通过耦合端口端口3退出。
在理想世界中,知道Pi并测量耦合功率(Pc)将使我们能够确定负载反射系数(Γ)。例如,如果负载完全匹配,则没有功率被反射,因此Pc理论上应为零。
然而,现实世界中的定向耦合器会将端口 2 上入射的 Pi 泄漏到耦合端口 3,这会影响功率测量的准确性。泄漏量取决于耦合器的方向性。在本文的其余部分,我们将研究如何量化此误差。
定向耦合器方程综述
在本系列的前一篇文章中,我们介绍了通常用于表征定向耦合器的三个因素:
耦合系数(C)。
方向性系数(D)。
隔离系数(I)。
对于图1中的四端口定向耦合器,我们可以计算出这些量如下:
方程式1方程式2方程式3
Px是港口x的功率,单位为瓦特。
Px(dB)是端口x的功率,单位为dB。
这三个因素之间存在有趣的关系:
方程式4
计算耦合端口处的反射功率
首先,我们将计算到达耦合端口3的理想功率。假设来自源(Pi)和入射到端口2的所有功率都从端口1流出。从负载(Pr)反射的功率(dB)等于入射功率(Pi)减去负载的回波损耗(RL):
方程式5
端口1上输入功率的一部分被耦合到端口3。通过重新排列方程2,我们可以表示端口3的耦合功率为:
方程式6
我们将端口 3 的耦合功率称为 Pc1。现在,通过将 Pr 替换为 P1,我们得到:
方程式7
最后,将方程5代入方程7,得到:
方程式8
图2显示了功率项、耦合因子和回波损耗之间的关系。
定向耦合器的功率项、耦合因子和回波损耗之间的关系。
图2:功率项、耦合因子和回波损耗之间的关系。图片由Steve Arar提供
多重反射让事情变得更加困难!
在此分析中,我们假设从负载反射并通过耦合器的功率被耦合器的输入端口(端口1)完全吸收。在实践中,该端口可能不是完全匹配的。因此,耦合器和负载之间可能发生多次反射,进一步改变了测量误差。
有限方向性引起的功率测量误差的计算
现在我们需要开始考虑耦合器中的误差来源。由于耦合器具有有限的指向性,因此Pi的一小部分也会泄漏到端口3。我们将这种泄漏称为Pc2。
对于入射到端口2的波,端口3是隔离端口。因此,泄漏量由隔离因子表征,其方程略有不同:
方程式9
重新排列这个方程并代入方程4,我们得到:
方程式10
图3显示了这组关系。Pc1是指定负载回波损耗的期望信号,Pc2是从端口2泄漏到端口3的信号。
反射功率测量中耦合功率和泄漏功率的关系。
图3.反射功率测量中耦合功率和泄漏功率的关系。图片由Steve Arar提供
Pc2的存在仅是因为耦合器的有限方向性。理想情况下,方向性(D)将是无限的,测量的功率将仅是负载反射功率的函数。当D有限时,在耦合端口出现额外的功率项(Pc2),影响我们的测量精度。
如图3所示,Pc1和Pc2之间的差值等于D – RL。考虑到方向性和回波损耗,我们可以很容易地确定Pc2相对于所需功率有多小。例如,如果D = 34 dB,RL = 26 dB,我们知道Pc2比Pc1低8 dB。
考虑相位差
上文中,我们确定了所需功率测量值(Pc1)与不希望泄漏(Pc2)之间的关系。然而,在耦合端口测量的总功率还取决于这两个信号分量之间的相位差。
假设与Pc1和Pc2对应的电压信号分别是振幅为a和b的正弦波形。使用图3中所示的关系,我们有:
方程式11
方程式12
其中Vi是图1中电源入射电压的振幅。
如果两个信号同相,则总信号幅度为+b。另一方面,如果两个信号相位相差180度,则总幅度为-b。这两个极端情况给出了总信号的最大值和最小值——相位差的其它值产生的幅度介于a-b和a+b之间。
耦合端口处的总电压波可以表示为:
方程式13
方程式13中的术语可以理解为:
ejθ这一术语表示两个信号之间的相位差。
括号内的术语是误差系数,表示测量值与实际值的相对偏差。
括号前面的术语表示如果耦合器具有无限方向性,我们将获得的期望幅度。
我们将把这种期望振幅称为Vdesired,并分别写出它的方程式:
方程式14
然后我们可以将方程式13重写为:
方程式15
其中x等于10(RL-D)/20。总误差因子是1和x的矢量和。图4帮助我们直观地展示了误差项。
误差因子,可视化为具有实部和虚部的向量。
图4.将误差因子可视化为一组具有实部和虚部的向量。图片由Steve Arar提供
示例1:计算测量回波损耗的不确定性
为了澄清上述讨论,让我们来解决罗德与施瓦茨公司关于VNA基础的文档中的一个示例问题。在这个例子中,我们的目标是使用方向性(D)为40 dB的耦合器来测量实际回波损耗(RL)为30 dB的负载。测量的回波损耗的最大值和最小值是多少?
从图3中,我们知道所需信号功率和不想要的信号功率之间的差值等于D – RL = 40 - 30 = 10 dB。因此,不想要的电压的幅度比所需的电压小0.32倍,计算如下:
方程式16
将x的这一值代入方程式15,我们看到总电压可以为:
系数1+x=1.32,比实际值高。
系数1-x=0.68,低于实际值。
因此,测量的功率可以是:
20log(1.32) = 比实际值高2.4 dB。
20log(0.68) = 比实际值低3.35 dB。
测量的反射功率与负载的回波损耗有关。反射功率越高,回波损耗越小。当测量的反射功率比实际值高2.4 dB时,测量的回波损耗比实际值低2.4 dB。这导致:
方程式17
同样,当测量的反射功率比实际值低3.35 dB时,测量的回波损耗为30 + 3.35 = 33.35 dB。因此,测量的回波损耗可以在27.6 dB和33.35 dB之间。
示例2:计算测量回波损耗的不确定性
为了更好地理解这些计算,让我们来看另一个例子。假设我们的目标是使用方向性为35 dB的方向耦合器来测量实际回波损耗为20 dB的负载。按照与上述示例类似的过程,我们首先找到不期望电压的幅度相对于期望电压有多小:
方程式18
总电压可以是:
比实际值高1 + 0.18 = 1.18倍。
系数1 - 0.18 = 0.82,低于实际值。
因此,测量的功率可以是:
20log(1.18) = 比实际值高1.44 dB。
20log(0.82) = 比实际值低1.72 dB。
当测量的反射功率比实际值高 1.44 dB 时,测量的回波损耗为 20 – 1.44 = 18.56 dB。另一方面,当功率测量为低 1.72 dB 时,测量的回波损耗为 20 + 1.72 = 21.72 dB。因此,测量的回波损耗可以在 18.56 dB 和 21.72 dB 之间。
误差如何随回波损耗和方向性变化?
图5显示了不同回波损耗和方向性值下反射功率测量误差。
反射功率测量误差是回波损耗和方向性的函数。
图5.反射功率测量误差与回波损耗和方向性的关系。图片由Marki Microwave提供
上述曲线对应于插入损耗为1 dB的耦合器。这使得结果与我们的分析结果略有不同,在我们的分析中忽略了耦合器的插入损耗。然而,该曲线揭示了有限方向性引入的误差的一些重要特性。
首先,请注意,误差随着回波损耗的增加而增加。对于给定的输入功率(Pi),泄漏功率是恒定的,但测量的信号(Pr)在减小。
其次,观察到增加给定回波损耗的指向性可以减小误差。图3中的关系解释了为什么:随着D的增加,与期望信号相比,不期望信号变得越来越小,从而提高了测量精度。
图5摘自Marki Microwave的白皮书,标题为“方向性和VSWR测量:了解回波损耗测量”,显示了当方向性几乎等于负载的回波损耗时误差会变得非常大。白皮书建议,作为经验法则,您可以通过使用比DUT回波损耗高约15 dB的方向性将误差降低到约1 dB。例如,如果回波损耗为20 dB,我们需要35 dB的方向性将误差限制在1 dB。
测量正向功率
我们还可以使用定向耦合器来对正向功率进行采样,如图6所示。
使用三端口定向耦合器对正向功率进行采样。
图6.使用三端口耦合器对正向功率进行采样。图片由Steve Arar提供
与反射功率测量相比,耦合器对正向功率测量的方向性要求更宽松。这是因为被测量的输入功率(Pi)大于反射功率(Pr)。图7显示了不同回波损耗和方向性值的前向功率测量误差。
正向功率测量误差是回波损耗和方向性的函数。
图7. 正向功率测量误差与回波损耗和方向性的关系。图片由Marki Microwave提供
请注意,负载回波损耗越小,误差就越大。这是因为较低的回波损耗意味着更多的功率被反射回源。这反过来导致耦合器输出端的不期望信号增加。即使对于很小的回波损耗,15 dB的指向性也可以确保正向测量的误差不超过大约1 dB。
耦合器方向性的测量
最后,由于它与本文中提供的误差分析密切相关,我想提一个测量耦合器方向性的实用方法。我们通常不能直接测量这个方向性,因为前向和后向波在耦合器的输出端产生了可比较的信号分量。
然而,我们可以修改图1,使用滑动负载间接测量耦合器的方向性,如图8所示。
测量耦合器方向性的电路。
图8.测量耦合器方向性的电路。图片由Steve Arar提供
改变滑动负载的位置会在反射信号中引入可变相移。根据我们上面的讨论,我们知道,当我们改变滑动负载的位置时,耦合端口处的电压会产生圆形轮廓(图4)。通过找到耦合端口处的最小和最大功率电平,我们可以确定耦合器的方向性。
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