研究人员开发出固态硬盘防辐射技术

美国阿拉巴马大学亨茨维尔分校开发出一种称为“水印存储”的技术，可保护固态硬盘免受辐射影响。该技术利用晶体管氧化层的击穿机制将信息“印”在现有的固态硬盘上。相比于传统的基于电荷的存储技术，这种新技术能有效抵御电磁和电离辐射对固态硬盘的损伤，有望在核电和航天工业领域取得直接应用。

辐射耐受性通常以累积总剂量为特征，以 rad(Si) 为单位表示。那么，水印数据存储的耐辐射性如何？

研究人员已经测试了高达 100 krad(Si) 的芯片，与传统的基于电荷的方法相比，他们发现使用新方法有明显的好处，新方法显示误码率与总剂量的线性响应，而传统方法显示出指数上升。

虽然使用水印技术在放射性环境中丢失的数据要少得多，但也有一个缺点。数据写入时间比传统电子存储要慢，如果芯片制造商允许在其芯片上进行一些额外的操作，则可以将其中一些不利因素降至最低。获 取 更多前沿科技?研究 进展访问：https://byteclicks.com

研究成果发表在IEEE Transactions on Device and Materials Reliability上。

版权声明：除特殊说明外，本站所有文章均为 字节点击 原创内容，采用 BY-NC-SA 知识共享协议。原文链接：https://byteclicks.com/40245.html 转载时请以链接形式标明本文地址。转载本站内容不得用于任何商业目的。本站转载内容版权归原作者所有，文章内容仅代表作者独立观点，不代表字节点击立场。报道中出现的商标、图像版权及专利和其他版权所有的信息属于其合法持有人，只供传递信息之用，非商务用途。如有侵权，请联系 gavin@byteclicks.com。我们将协调给予处理。

赞