面向太空电子测试应用，Silicon Designs推出战术级MEMS加速度计
据麦姆斯咨询报道，近日，Silicon Designs推出1527型系列产品，这是一系列经过辐射测试的微型战术级MEMS加速度计。
该系列产品提供三种满量程加速度范围——±10 g、±25 g和±50 g——旨在支持各种关键的太空电子测试要求，包括航天器、卫星和立方卫星的严苛要求。
此外，该系列产品具有较小的零偏和比例因子温度系数、出色的工作偏置稳定性和零交叉耦合，使其特别适合航天器电子测试应用——需要低功耗（+5 VDC、6.5 mA)、低噪声，在–55℃至+125℃环境下的长期测量稳定性，以及在间歇性辐射照射下的性能可靠性。
1527型系列产品的坚固设计将战术级MEMS惯性传感元件与定制集成电路（ASIC）、内部温度传感器、板载传感放大器和±4V差分模拟输出级结合在一起。MEMS惯性传感元件和内部组件安装在重量为0.68克的轻质、密封、氮气阻尼、微型、符合RoHS标准的J-lead LCC-20表面贴装陶瓷封装中（美国出口分类ECCN 7A994）。
1527型系列产品紧凑轻巧的封装面积允许在空间受限的环境中轻松集成MEMS加速度计，并最大限度地减少质量负载效应。每个1527型系列MEMS加速度计都标有序列号，以便在顶部和底部表面进行追溯。
Silicon Designs所有1527型系列战术级MEMS加速度计均在公司位于华盛顿西雅图郊外的全球公司总部和研发中心内部设计、制造、性能验证和校准。产品性能文档在发货时提供，包括残差、热传感器模型、加速度模型、偏置、比例因子、线性度、工作电流和频率响应数据。
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